全自動測厚儀MX1100

技術規格 

操作模式:

單機試驗 / 聯機試驗

樣品材料:

所有薄片狀材料

測量范圍（選擇其一）: 

0 - 50 mil, 0 - 100 mil, 0 - 200 mil, 0 - 300 mil
0 -1270 um, 0 - 2540 um
0 - 5080 um, 0 - 7620 um  
訂做其他測量范圍，請在訂購時說明

分辨率:

0.01 mil （0.1 um） （0.0001 mm）

精度:

±0.02 mils （±0.50 um） （±.0005 mm） / （±20 microinch）

平行距離:

±40 microinches或以上 （±1.0 micron 或以上）

測量頭尺寸:

0.188 inch 直徑 （4.3 mm直徑） （薄膜） / 0.628 inch直徑 （15.9 mm 直徑） （紙張r）

測量頭壓力: 

4.0 - 8.0 psi （0.562 kg/cm2）（薄膜） / 7.3 psi （0.513 kg/cm2） （紙張）

測量頻率: 

可達到 60次/分鐘

zui低速率:

0.040 inch/sec. （1mm / sec） （紙張）

響應時間:

3 ± 1 seconds

驅動:

N/A

數據顯示:

厚度數據

數據輸出:

RS-232接口可連打印機或電腦